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HAST 试验箱 压力老化箱

HAST 试验箱 压力老化箱

简要描述:HAST 试验箱 压力老化箱
HAST试验箱适用于IC封装,半导体,微电子芯片,磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能

产品型号:

所属分类:HAST高压加速老化试验箱

更新时间:2025-04-29

厂商性质:生产厂家

详情介绍

HAST 试验箱 压力老化箱


应用领域

广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。



产品特点

◆内胆采用双层圆弧设计,可以防止试验结露滴水现象,从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。

◆采用7寸真彩式触摸屏,拥有250组12500段程序,具有USB曲线数据下载功能,RS-485通讯接口。

◆采用干湿球传感器直接测量(控制模式分为:干湿球、不饱和、湿润饱和等3种模式)


HAST 试验箱 压力老化箱



控制与安全系统

  1. 智能控制系统

    • 控制器:7英寸真彩触摸屏,支持250组程序、12500段编程,数据可通过USB导出,兼容RS-485通信。

    • 控制模式:干湿球、湿润饱和、不饱和三箱控制,满足IEC 60068-2-66、JESD22-A110等标准。

  2. 安全保护机制

    • 多重防护:超温/超压报警、断水保护(湿度用水与电热空焚)、机械式压力安全阀、紧急泄压装置。

    • 耐压设计:箱体可承受150℃下2.65 kg/cm²压力,并通过6 kg/cm²水压测试。

    • 反压门锁:内部有压力时自动锁止,防止误操作。

  3. 扩展功能

    • BIAS偏压端子:标配48个端子(可扩展至55个),支持交直流125V 1A,符合JESD22-A110规范。





HAST 试验箱 压力老化箱



应用领域与标准符合性

  1. 行业应用

    • 电子工业:IC封装、半导体芯片、PCB线路板的密封性与耐湿性测试。

    • 新能源:光伏组件(EVA)、磁性材料的高压湿热老化评估。

    • 汽车与航空航天:车载电子、航天器零部件的可靠性验证。

  2. 符合标准

    • 国际标准:IEC 60068-2-66、JESD22-A110/A118、ASTM D5427。

    • 国内标准:GB/T 2423.40(未饱和高压蒸汽湿热试验)。





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