摘要1000L高低温试验箱属于大容积机型，多用于电控总成、储能BMS箱体、车载控制器、大型模组等大件样品的高低温环境适应性测试。大腔体本身气流路径长，大件试样作为障碍物，会改变腔内对流场分布，迎风面、背风面、样品底部、样品与箱壁间隙位置形成...

摘要225L属于行业主流小型可程式高低温试验箱，广泛用于电子元器件、PCB组件、小型塑胶件可靠性循环测试。在试验过程中，经常需要中途开门放置样品、巡检、更换试样。开门瞬间外界空气侵入、箱内冷热气流外泄，会快速破坏腔内稳态温场；关门之后，箱体...

摘要电池模组防爆高低温箱用于锂电池热失控安全测试，定向泄压结构是核心安全屏障，设计有固定的起跳泄压阈值，保证内部压力超过安全限值时快速释放冲击波与高温烟气，保护箱体结构与操作人员安全。反复热失控试验后，泄压口、爆破片、泄压阀通道会逐步堆积碳...

摘要高海拔低气压试验箱用于模拟高空低气压、宽温域耦合环境，广泛用于航天连接器、机载元器件、卫星组件可靠性验证。设备密封系统的渗漏速率不是固定值，而是随温度循环同步变化，低温下密封收缩、高温下密封膨胀，带来渗漏量动态波动。该特性造成常规单点保...

摘要HAST高压加速老化试验箱长期在高温、高压、高水汽分压工况下运行，门体、法兰处的密封垫片持续承受周期性挤压、湿热渗透与压力交变载荷，极易发生疲劳失效。垫片失效具有渐进性特征，初期仅表现为压力缓慢漂移，肉眼难以识别，等到明显泄压、水汽外泄...

可靠性恒温恒湿箱在长期运行中可能出现温度异常、湿度异常、制冷效率下降、报警停机、数据记录异常和箱体结露等问题。由于温湿度系统相互耦合，排查时通常需要先区分是控制、传感器、风道、水路、制冷还是密封环节出现异常。温度无法达到设定值是较常见的故障...

引言HAST（高加速应力试验）广泛用于半导体器件、PCB、电子封装件加速湿热老化测试。传统饱和型HAST依靠水沸腾产生饱和蒸汽，腔内相对湿度接近100%，样品表面极易凝结水滴。很多电子元器件试验规范不允许样品表面直接滴水，凝露会造成样品短路...

引言动力电池模组、储能电芯在高低温循环测试、老化测试过程中，存在热失控风险。电芯内部短路、析锂、过温，会引发产气、起火甚至爆炸。普通高低温试验箱没有防爆结构，一旦电芯热失控，冲击波、高温燃气会直接冲击箱体，造成箱体爆裂，危及实验室人员安全。...