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电子电器检测高低温循环冲击试验机

电子电器检测高低温循环冲击试验机

简要描述:电子电器检测高低温循环冲击试验机
用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具。

产品型号: TSD-80F-2P

所属分类:二箱式冷热冲击试验箱

更新时间:2022-08-19

厂商性质:生产厂家

详情介绍

电子电器检测高低温循环冲击试验机

 

执行与满足标准

1、GB/T2423.1-1989低温试验方法;      
2、GB/T2423.2-1989高温试验方法;      
3、GB/T2423.22-1989温度变化试验;      
4、GJB150.5-86温度冲击试验;      
5、GJB360.7-87温度冲击试验;      
6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。      
7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式       
8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式       
9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化       
10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则       
11、GB/T 2423.22-2002温度变化       
12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则     
13、EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估

 

冷热冲击试验箱冲击温度范围 -10、-20、-30、-40、-55、-65~+150℃
预热预冷温度范围 预热:+60℃~+200℃ 预冷:-80℃~0℃
曝露时间 高温曝露:30min 低温曝露:30min 环境曝露:2min
温度偏差 ±2℃
温度转换时间 5s
温度回复时间 5min
使用环境温度 +5℃~35℃
材料 外壳 SUS304拉丝不锈钢
内体 不锈钢板SUS304
绝热 硬质聚氨酯泡沫+玻璃纤维

 

皓天冷热冲击试验箱图片:

 

 

电子电器检测高低温循环冲击试验机

 

样品隔层架对试验物的承重量:2.5kg以内,如有超重的测试物请下单时注明。
高温上升时间约:40min
低温下降时间约:80min
高温槽温度zui高可储存至:60℃~200℃
低温槽温度zui低可储存至:-70℃~-10℃
温度移动冲击时间在:10秒钟内
温度冲击恢复稳定时间在:3~5分钟内

此设备分为高温区、低温区、测试区三部分,测试样品完全静止。采用*之蓄热、蓄冷结构,

强制冷热风路切换方式导入测试区,完成冷热温度冲击测试。

 



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