HAST 试验箱 压力老化箱 HAST试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能

HAST高温高湿高压老化箱 HAST试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能，广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。

HAST寿命试验箱 高加速温度和湿度压力 HAST 寿命试验箱，又称高压加速老化试验箱，主要用于评估在湿度环境下产品或材料的可靠性。在设定的温度、相对湿度和压力条件下，将待测样品暴露于非冷凝的高温高湿环境中，以加速其老化过程。通过准确控制试验箱内的环境参数，可以在短时间内模拟出产品可能经历的数十年甚至更长时间的自然老化过程。

PCT高压加速老化试验箱 高温湿度试验 高温高压加速老化测试箱结构形式为立式,试验箱内箱采用 SUS304 发纹不锈钢板,外箱采用拉丝不锈钢 板美观大方，温度控制器为日本富士数显控制器,PT100 感应器,指针式压力表,内置式储水箱.该设备具有超温、欠相、 缺水、压力、加热管空烧等保护装置。

PCT 高压加速老化试验箱 气压湿度款 具有模拟大气环境中温度变化规律。主要针对于电工，电子产品，以及其元器件及其它材料在高温，低温综合环境下运输，使用时的适应性试验。用于产品设计，改进，鉴定及检验等环节。