HAST 试验箱 压力老化箱 HAST试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能

HAST高温高湿高压老化箱 HAST试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能，广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。

HAST寿命试验箱 高加速温度和湿度压力 HAST 寿命试验箱，又称高压加速老化试验箱，主要用于评估在湿度环境下产品或材料的可靠性。在设定的温度、相对湿度和压力条件下，将待测样品暴露于非冷凝的高温高湿环境中，以加速其老化过程。通过准确控制试验箱内的环境参数，可以在短时间内模拟出产品可能经历的数十年甚至更长时间的自然老化过程。

PCT 高压加速老化试验箱 气压湿度款 具有模拟大气环境中温度变化规律。主要针对于电工，电子产品，以及其元器件及其它材料在高温，低温综合环境下运输，使用时的适应性试验。用于产品设计，改进，鉴定及检验等环节。

高压加速老化试验机 HT-HAST-80L 该设备主要是测试产品在高温、高温高湿及压力的气候环境下的贮存、运输和使用时的性能试验， 主要用于对 电工、电子产品，元器件、零部件、金属材料及其材料在模拟高温、高温高湿及压力的气候条件下，对产品的物理 以及其它相关性能进行测试，测试后，通过检定来判断产品的性能是否能够达到要求，以便供产品的设计、改进、 检定及出厂检验使用。密封性能的检测，相关之产品作加速