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东莞皓天 HAST 高压加速老化试验箱新品发布|赋能半导体 HAST 可靠性测试

发布时间: 2026-06-22  点击次数: 6次
近日,东莞皓天试验设备全新一代 HAST 高压加速老化试验箱完成整机调试、第三方性能校准,正式面向半导体、车载电子行业上市发布。新品针对芯片、PCB、精密连接器、塑封封装器件差异化测试需求优化软硬件,一站式覆盖 UHAST 无偏压、B-HAST 带电偏压、PCT 饱和蒸煮三大测试模式,精准匹配 JEDEC JESD22-A110、AEC-Q100 等半导体可靠性强制标准,高效解决行业传统设备控温控湿不稳、测试误判、验证周期长等核心痛点。
当前半导体行业加速迭代,BGA、QFN、功率芯片、3D 封装产品对湿热可靠性验证要求持续升级。传统 85℃/85% RH 稳态湿热测试需上千小时才能完成寿命评估,难以匹配新品快速研发节奏;市面普通 HAST 设备普遍存在温压湿耦合控制粗糙、非饱和湿度易凝露、带偏压工况数据漂移等问题,极易造成芯片短路误失效、封装分层缺陷漏检,无法满足车规、工业级芯片严苛审厂与认证要求。
依托多年环境试验设备研发积淀,皓天研发团队针对半导体测试场景完成多项核心技术升级。全新 HAST 设备搭载自研温、压、湿三参数独立耦合 PID 控制系统,温度控制精度 ±0.3℃,湿度波动稳定控制在 ±2% RH,压力波动≤0.1kPa,全程无冷凝水产生,从根源避免精密芯片、镀金连接器出现假性腐蚀失效。整机支持 110℃~130℃宽温域、60%~100% RH 湿度区间自由切换,区分不饱和 HAST、饱和 PCT 两种应力体系:不饱和模式适配 IC、PCB、精密接插件电化学腐蚀筛查;饱和高压模式针对塑封器件,快速激发水汽渗透、封装分层、爆米花效应缺陷;多路独立偏压输出模块可同步模拟芯片带电服役工况,真实复现车载高温高湿带电老化失效机理。
硬件结构方面,设备采用一体成型 SUS316 防腐不锈钢内胆,耐蒸汽腐蚀、不易结垢;优化蒸汽循环风道,箱内全域温湿度均匀度大幅提升,大小批量样品测试数据一致性更强。整机配备缺水、超温、超压、漏电多重安全联锁保护,搭配 7 寸高清触控大屏,支持 999 段程序编辑、自动数据存储、USB 导出、远程通讯监控,所有运行数据全程可溯源,满足第三方计量、客户实验室审厂资料规范要求。同时配套标准化水路除垢、腔体清洁运维指导方案,降低设备长期使用故障率,延长整机使用寿命。
本次新品覆盖 40L、80L、100L、150L 多容积规格,可适配实验室小样研发、产线批量可靠性抽检等不同场景,为半导体封测企业、车载电子、PCB 制造、光电元器件厂商提供定制化 HAST 测试整体解决方案。相比进口设备,皓天新一代 HAST 机型兼顾同等测试精度与高性价比,本地售后团队可快速提供上门安装、校准、运维培训一站式服务,解决行业进口设备维保周期长、配件成本高昂的难题。
东莞皓天试验设备深耕可靠性环境检测设备研发制造,产品线覆盖 HAST 高压加速老化箱、冷热冲击试验箱、快速温变试验箱、UV 紫外老化试验箱等全系列设备。未来,公司将持续聚焦半导体、新能源、军工电子赛道,持续迭代高压加速、高低温应力测试核心技术,以稳定合规的试验设备与标准化运维服务,助力国内电子制造企业产品可靠性验证体系,助推半导体检测设备国产化高质量发展。

企业简介

东莞皓天试验设备有限公司专注研发、生产、销售各类环境可靠性试验设备,设备严格遵循国标、JEDEC、GJB、IEC 等国内外检测标准,广泛服务于半导体、汽车电子、新能源、通信、塑胶材料等行业,可提供设备定制、上门校准、实验室运维培训全流程配套服务。